Zobrazeno 1 - 10
of 7 298
pro vyhledávání: '"Microcutting"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zikiy, E. V., Ivanov, A. I., Smirnov, N. S., Moskalev, D. O., Polozov, V. I., Matanin, A. R., Malevannaya, E. I., Echeistov, V. V., Konstantinova, T. G., Rodionov, I. A.
Dielectric losses are one of the key factors limiting the coherence of superconducting qubits. The impact of materials and fabrication steps on dielectric losses can be evaluated using coplanar waveguide (CPW) microwave resonators. Here, we report on
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2306.16301
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Boban, Jibin, Ahmed, Afzaal
Publikováno v:
Procedia CIRP; 2024, Vol. 123, p244-249, 6p
Publikováno v:
In Optics and Laser Technology November 2023 166
Autor:
E. V. Zikiy, A. I. Ivanov, N. S. Smirnov, D. O. Moskalev, V. I. Polozov, A. R. Matanin, E. I. Malevannaya, V. V. Echeistov, T. G. Konstantinova, I. A. Rodionov
Publikováno v:
Scientific Reports, Vol 13, Iss 1, Pp 1-6 (2023)
Abstract Dielectric losses are one of the key factors limiting the coherence of superconducting qubits. The impact of materials and fabrication steps on dielectric losses can be evaluated using coplanar waveguide (CPW) microwave resonators. Here, we
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cb98dc11ef8841fe9d788b6fd2281eff
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Han, Yunxiao1 (AUTHOR), Liu, Zhidong1 (AUTHOR) liutim@nuaa.edu.cn, Chen, Qingcai1 (AUTHOR), Qiu, Mingbo1 (AUTHOR), Mu, Hongpeng1 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Mar2021, Vol. 113 Issue 5/6, p1717-1725. 9p. 1 Color Photograph, 4 Black and White Photographs, 5 Diagrams, 1 Chart, 3 Graphs.
Publikováno v:
In Journal of Materials Science & Technology 20 November 2021 91:178-186