Zobrazeno 1 - 10
of 210
pro vyhledávání: '"Michel, Luc A"'
Autor:
Mulier, Stefaan, Possebon, Ricardo, Jiang, Yansheng, Jamart, Jacques, Wang, Chong, Miao, Yi, Yu, Tongfu, Jiang, Kuirong, Feng, Yuanbo, Marchal, Guy, Michel, Luc, Ni, Yicheng
Publikováno v:
In Surgical Oncology June 2020 33:145-157
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Michel Luc Cote, Philippe Hurat, Wei Xu, Angelo Pinto, Rami Salem, Piyush Pathak, Ya-Chieh Lai
Publikováno v:
2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM).
Products today can contain tens of billions of devices with hundreds of millions of unique layout contexts. The electrical performance of these transistors (e.g. Idsat, Vth, etc.) are highly sensitive to Layout Dependent Effects (LDE). This paper des
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e54626cd8ed8fa465fe06b579443979
https://doi.org/10.1109/edtm.2019.8731156
https://doi.org/10.1109/edtm.2019.8731156
Autor:
Faugeras, Laurence, Pirson, Anne-Sophie, Donckier, Julian, Michel, Luc, Van der Vorst, Sébastien, D'Hondt, Lionel
Publikováno v:
Hemato-Oncologie, Vol. 13, no.2, p. 22-29 (2020)
Depuis quelques dizaines d’années, la fréquence du cancer de la thyroïde est en nette progression; toutefois, son taux de mortalité reste stable. La plupart de ces cancers sont traités par chirurgie suivie ou non de radio-iode en fonction du s
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1493::0a4f54e1893ed9148aa9412cc43330a9
https://hdl.handle.net/2078.1/227923
https://hdl.handle.net/2078.1/227923
Autor:
Philippe Hurat, Ya-Chieh Lai, Ryoung-han Kim, Jun Ye, Cyrus E. Tabery, Yi Zou, Vincent Arnoux, Michel Luc Cote, Luca Mattii, Praveen Raghavan
Publikováno v:
Optical Microlithography XXX.
Publisher’s Note: This paper, originally published on 30-March, 2017, was replaced with a corrected/revised version on 6-April, 2017. If you downloaded the original PDF but are unable to access the revision, please contact SPIE Digital Library Cust
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b46e3b9a60719e1f369be560a2ada850
https://doi.org/10.1117/12.2263861
https://doi.org/10.1117/12.2263861
Publikováno v:
Counselling & Psychotherapy Research. Mar2011, Vol. 11 Issue 1, p43-54. 12p. 1 Chart, 2 Graphs.
Autor:
Michel, Luc1 luc.michel@sasc.unil.ch, Drapeau, Martin2,3 martin_drapeau@hotmail.com, Despland, Jean-Nicolas3 jean-nicolas.despland@inst.hospvd.ch
Publikováno v:
Journal of College Student Psychotherapy. 2003, Vol. 18 Issue 2, p3-14. 12p. 1 Chart.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ya-ch Lai, Mealie Zhang, Philippe Hurat, Michel Luc Cote, Yifan Zhang, Huiyuan Song, Helen Li, Waisum Wong, Wei Xu, Hua Ding, Jason Huang
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Advanced process nodes introduce new variability effects due to increased density, new material, new device structures, and so forth. This creates more and stronger Layout Dependent effects (LDE), especially below 28nm. These effects such as WPE (Wel
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::77ea99725fc91d421b7fc4dc4a4286ce
https://doi.org/10.1117/12.2087443
https://doi.org/10.1117/12.2087443