Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Michael M. Karpuk"'
Publikováno v:
Optical Interference Coatings.
An approach of ellipsometric measurements both from ambient media and from transparent or weakly absorbing substrate has been proposed to determine optical constants and thickness of anisotropic films. According to this approach the main refractive i
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Reviewed are the approaches for the determination of the optical constants - refraction indices, absorption coefficients and thickness of thin uniaxial film with various optical axis orientations, arbitrary among them. The comparative analysis of var
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.