Enabling robust automotive electronic components in advanced CMOS nodes

Autor: Huard, V., Mhira, S., Cacho, F., Bravaix, A.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:13-24

Robust automotive products in advanced CMOS nodes

Autor: Bravaix, Alain, Huard, V., Mhira, S., de Tomasi, M., Trabace, E., Vaion, R. Enrici, Zabberoni, P.

Publikováno v: 2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2017, Monterey, France. pp.3A-2.1-3A-2.7, ⟨10.1109/IRPS.2017.7936277⟩

International audience; In this work, additional elements needed on top of conventional foundry reliability knowledge to enable robust automotive products in compliance with all restrictive norms are introduced. For intrinsic reliability, the main el

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e6012fc98dabb788c796e5bcf9ba5715
https://hal.science/hal-03654298

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.