Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Mhira, S."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:13-24
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:163-167
Autor:
Bravaix, Alain, Huard, V., Mhira, S., de Tomasi, M., Trabace, E., Vaion, R. Enrici, Zabberoni, P.
Publikováno v:
2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2017, Monterey, France. pp.3A-2.1-3A-2.7, ⟨10.1109/IRPS.2017.7936277⟩
2017 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), Apr 2017, Monterey, France. pp.3A-2.1-3A-2.7, ⟨10.1109/IRPS.2017.7936277⟩
International audience; In this work, additional elements needed on top of conventional foundry reliability knowledge to enable robust automotive products in compliance with all restrictive norms are introduced. For intrinsic reliability, the main el
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e6012fc98dabb788c796e5bcf9ba5715
https://hal.science/hal-03654298
https://hal.science/hal-03654298
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.163-167
27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016)
27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 64, pp.163-167
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.163-167
27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016)
27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2016, 64, pp.163-167
International audience; We have developed the possibility of using healing phases on hot-carrier (HC) degraded transistors from devices to logic cells (1) by the combined effects of oxide charge neutralization and channel shortening (2) using back bi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::32ffd35d6206070b37ce7526fc058dde
https://hal.science/hal-01977458
https://hal.science/hal-01977458
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.