Zobrazeno 1 - 10
of 452
pro vyhledávání: '"Mhaisalkar S"'
Autor:
Erdenebileg, E., Tiwari, N., Kosasih, F.U., Dewi, H.A., Jia, L., Mathews, N., Mhaisalkar, S., Bruno, A.
Publikováno v:
In Materials Today Chemistry June 2023 30
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Scripta Materialia 2009 60(1):48-51
Publikováno v:
In Journal of Alloys and Compounds 2006 415(1):193-197
Autor:
Varghese, Binni, Mukherjee, Bablu, Karthik, K. R. G., Jinesh, K. B., Mhaisalkar, S. G., Soon Tok, Eng, Haur Sow, Chorng
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; May2012, Vol. 111 Issue 10, p104306, 6p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/2006, Vol. 100 Issue 8, p084302, 5p, 4 Black and White Photographs, 1 Diagram, 3 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 11/15/2005, Vol. 98 Issue 10, p103508, 10p, 13 Diagrams, 1 Chart, 4 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zschech, E., Engelmann, H. -J, Meyer, M. A., Kahlert, V., Vairagar, A. V., Mhaisalkar, S. G., Krishnamoorthy, A., Yan, M., Tu, K. N., Valeriy Sukharev
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Both in situ microscopy experiments at embedded inlaid copper interconnect structures and numerical simulations based on a physical model provide information about electromigration-induced degradation mechanisms in on-chip interconnects. It is shown
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.