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pro vyhledávání: '"Metz, Thomas E."'
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1992, Issue 1, p146-152, 7p
Real-time, in-situ measurement of film thickness and uniformity during plasma ashing of photoresist.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov1991, Issue 1, p551-554, 4p
Publikováno v:
FineScale Modeler; Sep2015, Vol. 33 Issue 7, p8-10, 2p, 1 Color Photograph
Autor:
Bartenstein, Helmut, Malz, Heinz
Publikováno v:
Senckenbergiana Lethaea; Aug2001, Vol. 81 Issue 1, p25-57, 33p
Epochenübergreifend und aus interdisziplinärer Perspektive behandelt der Band sowohl Ursachen und Verlaufsformen als auch Repräsentationen und Wirkungen von Herrschaftsverlust und Machtverfall, am Beispiel ausgewählter Fälle von der hellenistisc
