Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"Metral, F."'
Publikováno v:
In Ecological Modelling 2001 145(2):111-121
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Flachowsky, S., Hontschel, J., Wei, A., Illgen, R., Hermann, P., Herrmann, T., Klix, W., Stenzel, R., Ramirez, A., Horstmann, M., Kernevez, N., Cayrefourcq, I., Metral, F., Kennard, M., Guiot, E.
Publikováno v:
2009 10th International Conference on Ultimate Integration of Silicon; 2009, p161-164, 4p
Autor:
Ian Cayrefourcq, Kennard, M., Metral, F., Mazuré, C., Thean, A., Sadaka, M., White, T., Nguyen, B. Y.
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
not Available.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::828f244324a5d9d161fcc6d0ea29cea1
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-31844435540&partnerID=MN8TOARS
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-31844435540&partnerID=MN8TOARS
Autor:
Arena, C., Werkhoven, C., Cody, N., Tomasini, P., Nguyen, B. Y., White, T., Thean, A. V. Y., Zhang, D., Dhandapani, V., Kennard, M., Metral, F., Cayrefourcq, I., Mazure, C.
Publikováno v:
Semiconductor International; Mar2005, Vol. 28 Issue 3, p40-44, 4p, 1 Color Photograph, 1 Diagram, 1 Chart, 4 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Moriceau, H., Maleville, C., Cartier, A.M., Aspar, B., Soubie, A., Bruel, M., Poumeyrol, T., Metral, F., Auberton-Herve, A.J.
Publikováno v:
1996 IEEE International SOI Conference Proceedings; 1996, p152-153, 2p
Autor:
Bruel, M., Aspar, B., Charlet, B., Maleville, C., Poumeyrol, T., Soubie, A., Auberton-Herve, A.J., Lamure, J.M., Barge, T., Metral, F., Trucchi, S.
Publikováno v:
1995 IEEE International SOI Conference Proceedings; 1995, p178-179, 2p
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.