Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"Mesuda M"'
Autor:
Kajihara, K., Koda, Y., Ishiyama, T., Aonuki, S., Toko, K., Honda, S., Mesuda, M., Suemasu, T.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2/21/2024, Vol. 135 Issue 7, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Drastic enhancement of photoresponsivity in C-doped BaSi2 films formed by radio-frequency sputtering
Autor:
TOKO, Kaoru, SUEMASU, Takashi, Nemoto, T., Matsuno, S., Sato, T., Gotoh, K., Mesuda, M., Kuramochi, H., Usami, N.
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics. 59:SFFA06
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::ef45db1fe51dac920b05876265567170
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/records/54869
https://tsukuba.repo.nii.ac.jp/records/54869
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nemoto, T., Matsuno, S., Sato, T., Gotoh, K., Mesuda, M., Kuramochi, H., Toko, K., Usami, N., Suemasu, T.
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; 04/30/2020, Vol. 59 Issue SF, p1-5, 5p