Zobrazeno 1 - 10
of 183
pro vyhledávání: '"Mertens, Paul W."'
We investigate the internal flow pattern of an evaporating droplet using tomographic particle image velocimetry (PIV) when the contact line non-uniformly recedes. We observe a three-dimensional azimuthal vortex pair while the contact line non-uniform
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2005.07881
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering October 2012 98:159-162
Publikováno v:
In Handbook of Silicon Wafer Cleaning Technology Edition: Third Edition. 2018:87-149
Autor:
Fyen, Wim, Holsteyns, Frank, Bearda, Twan, Arnauts, Sophia, Van Steenbergen, Jan, Doumen, Geert, Kenis, Karine, Mertens, Paul W.
Publikováno v:
In Developments in Surface Contamination and Cleaning, Vol. 1 Edition: Second Edition. 2016:795-854
Autor:
Mertens, Paul W., Marent, Katrien
Publikováno v:
Solid State Technology. Sep2000, Vol. 43 Issue 9, p113. 4p. 1 Black and White Photograph, 2 Diagrams, 2 Graphs.
Publikováno v:
Solid State Technology. Mar99, Vol. 42 Issue 3, p37. 6p. 3 Diagrams, 4 Charts, 1 Graph.
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2018, Vol. 282 Issue: 1 p295-299, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fyen, Wim, Holsteyns, Frank, Bearda, Twan, Arnauts, Sophia, Steenbergen, Jan Van, Doumen, Geert, Kenis, Karine, Mertens, Paul W.
Publikováno v:
In Developments in Surface Contamination and Cleaning - Fundamentals and Applied Aspects 2008:1067-1136