Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Memory diagnosis"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Insinga, Giorgio, Battilana, Matteo, Coppetta, Matteo, Mautone, Nellina, Carnevale, Giambattista, Giltrelli, Massimo, Scaramuzza, Pierre, Ullmann, Rudolf
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2153::7a65af9352d680f8e9448e1f21e38652
https://hdl.handle.net/11583/2979779
https://hdl.handle.net/11583/2979779
Autor:
Bernardi, P., Insinga, G., Paganini, G., Cantoro, R., Beer, P., Coppetta, M., Mautone, N., Carnevale, G., Scaramuzza, P., Ullmann, R.
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Embedded memories in Automotive Systems-on-Chip usually occupy a large die area portion. Consequently, their defectivity can strongly impact production yield for any automotive device. Along with the technology ramp-up phase and for statistical proce
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::60661b92dd3ce6efc716564d87fe6c4e
https://hdl.handle.net/2117/372157
https://hdl.handle.net/2117/372157
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Panagiota Papavramidou
Publikováno v:
ITC
IEEE International Test Conference (ITC'2016)
IEEE International Test Conference (ITC'2016), Nov 2016, Fort Worth, United States
IEEE International Test Conference (ITC'2016)
IEEE International Test Conference (ITC'2016), Nov 2016, Fort Worth, United States
International audience; We illustrate that memory repair for high fault rates allows improving yield, extending circuit life, reducing power, and improving reliability, and can be used to push aggressively the limits of technology scaling. Then we pr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c073512fb89e39644e0b5dba5771fc76
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02006508
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02006508
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.