Zobrazeno 1 - 10
of 312
pro vyhledávání: '"Melle, S."'
Autor:
Lotte van der Stap, Myrthe F. van Haaften, Esther F. van Marrewijk, Albert H. de Heij, Paula L. Jansen, Janine M. N. Burgers, Melle S. Sieswerda, Renske K. Los, Anna K. L. Reyners, Yvette M. van der Linden
Publikováno v:
Scientific Reports, Vol 12, Iss 1, Pp 1-11 (2022)
Abstract Although patients with advanced cancer often experience multiple symptoms simultaneously, clinicians usually focus on symptoms that are volunteered by patients during regular history-taking. We aimed to evaluate the feasibility of a Bayesian
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/79358eb5287643b39d94addf1fd1999b
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Repositorio Institucional del Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia
Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia (IMDEA Nanociencia)
Instituto Madrileño de Estudios Avanzados en Nanociencia (IMDEA Nanociencia)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=RECOLECTA___::bc3cffff038d47e431e52447ad3fb844
http://hdl.handle.net/20.500.12614/2544
http://hdl.handle.net/20.500.12614/2544
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mellé, S., De Conto, D., Mazenq, L., Dubuc, D., Poussard, B., Bordas, C., Grenier, K., Bary, L., Vendier, O., Muraro, J.L., Cazaux, J.L., Plana, R.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1770-1775
Autor:
Exarchos, M., Theonas, V., Pons, P., Papaioannou, G.J., Melle, S., Dubuc, D., Cocetti, F., Plana, R.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1782-1785
Autor:
Dubuc, D., Saddaoui, M., Melle, S., Flourens, F., Rabbia, L., Ducarouge, B., Grenier, K., Pons, P., Boukabache, A, Bary, L., Takacs, A., Aubert, H., Vendier, O., Roux, J.L., Plana, R.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2004 44(6):899-907
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.