Zobrazeno 1 - 10 of 262 pro vyhledávání: '"Mekki D"'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Archways and Their Social and Security Role in the Palaces of the Ottoman Rulers in Algiers and Constantine. (English)
Autor: Mekki, D. Hayat
Publikováno v: Research in Educational & Human Sciences Arts & Languages; 2021, Vol. 2 Issue 1, p429-450, 22p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Analysis of the recombination velocity and of the electron beam induced current contrast at the interface between a metallic precipitate and a semiconductor matrix.
Autor: Debez, M., Tarento, R.-J., Mekki, D. E.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Jun2008, Vol. 103 Issue 11, p113718, 8p, 1 Diagram, 10 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Perturbation approach of the injection effect on the electron-beam-induced current efficiency in lightly doped semiconductors.
Autor: Tarento, R. J.1, Mekki, D. E.2, Tabet, N.3
Publikováno v: Philosophical Magazine B. 07/01/2000, Vol. 80 Issue 7, p1347-1358. 12p. 1 Diagram, 5 Graphs.
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Surface and quantum chemical parameters of nickel oxide nanostructures suited for ultraviolet-assisted cationic dye degradation.
Autor: Rathika, G.1, Jagadeeswari, R.2 jagadeeswarichem@gmail.com, Sathiyapriya, T.3, Selvakumar, P.4
Publikováno v: Kuwait Journal of Science. Apr2024, Vol. 51 Issue 2, p1-10. 10p.
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Recombination, emission and EBIC contrast of metallic precipitate embedded in a semiconductor matrix.
Autor: Tarento, R-J, Debez, M, Mekki, D. E., Djemel, A
Publikováno v: AIP Conference Proceedings; 2014, Vol. 1583, p199-203, 5p, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje