Zobrazeno 1 - 10 of 56 pro vyhledávání: '"Mcpherson, J. W."'
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Polarity dependent thermochemical E-model for describing time dependent dielectric breakdown in metal-oxide-semiconductor devices with hyper-thin gate dielectrics.
Autor: McPherson, J. W.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2016, Vol. 120 Issue 10, p104102-1-104102-8, 8p, 5 Diagrams, 2 Charts, 5 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Lorentz factor determination for local electric fields in semiconductor devices utilizing hyper-thin dielectrics.
Autor: McPherson, J. W.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 118 Issue 20, p204106-1-204106-12, 12p, 9 Diagrams, 2 Charts, 6 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Determination of the nature of molecular bonding in silica from time-dependent dielectric breakdown data.
Autor: McPherson, J. W.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 6/15/2004, Vol. 95 Issue 12, p8101-8109, 9p, 4 Diagrams, 1 Chart, 12 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Complementary model for intrinsic time-dependent dielectric breakdown in SiO[sub2] dielectrics.
Autor: McPherson, J. W., Khamankar, R. B., Shanware, A.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 11/1/2000, Vol. 88 Issue 9, p5351, 9p, 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 7 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Kniha
Sampling Plans and Confidence Intervals.
Autor: McPherson, J. W.
Publikováno v: Reliability Physics & Engineering (9783319001210); 2013, p355-376, 22p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje