Zobrazeno 1 - 10
of 91
pro vyhledávání: '"McFadzean S"'
Autor:
McVitie, S., Hughes, S., Fallon, K., McFadzean, S., McGrouther, D., Krajnak, M., Legrand, W., Maccariello, D., Collin, S., Garcia, K., Reyren, N., Cros, V., Fert, A., Zeissler, K., Marrows, C. H.
Publikováno v:
Sci. Rep. 8, 5703 (2018)
Skyrmions in ultrathin ferromagnetic metal (FM)/heavy metal (HM) multilayer systems produced by conventional sputtering methods have recently generated huge interest due to their applications in the field of spintronics. The sandwich structure with t
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1711.05552
Autor:
Zeissler, K., Mruczkiewicz, M., Finizio, S., Raabe, J., Shepley, P. M., Sadovnikov, A. V., Nikitov, S. A., Fallon, K., McFadzean, S., McVitie, S., Moore, T. A., Burnell, G., Marrows, C. H.
We have imaged N\'eel skyrmion bubbles in perpendicularly magnetised polycrystalline multilayers patterned into 1 \mu m diameter dots, using scanning transmission x-ray microscopy. The skyrmion bubbles can be nucleated by the application of an extern
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1706.01065
Autor:
McGrouther, D., Lamb, R. J., Krajnak, M., McFadzean, S., McVitie, S., Stamps, R. L., Leonov, A. O., Bogdanov, A. N., Togawa, Y.
We have utilised a high spatial resolution imaging method, Differential Phase Contrast (DPC) performed in a scanning transmission electron microscope (STEM), for precise measurement of the magnetic induction distribution in skyrmion states in noncent
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1606.04681
Publikováno v:
In Ultramicroscopy October 2020 217
Autor:
Benitez, M. J., Basith, M. A., McGrouther, D., McFadzean, S., MacLaren, D. A., Hrabec, A., Lamb, R. J., Marrows, C. H., McVitie, S.
Using Lorentz transmission electron microscopy we investigate the behavior of domain walls pinned at non-topographic defects in Cr(3 nm)/Permalloy(10 nm)/Cr(5 nm) nanowires of width 500 nm. The pinning sites consist of linear defects where magnetic p
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1501.01410
Publikováno v:
In Ultramicroscopy May 2015 152:57-62
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Scott, J., Thomas, P.J., MacKenzie, M., McFadzean, S., Wilbrink, J., Craven, A.J., Nicholson, W.A.P.
Publikováno v:
In Ultramicroscopy 2008 108(12):1586-1594
Autor:
Docherty, F.T., MacKenzie, M., Craven, A.J., McComb, D.W., Gendt, S. De, McFadzean, S., McGilvery, C.M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2008 85(1):61-64