Zobrazeno 1 - 10
of 560
pro vyhledávání: '"Mawby P.A."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Publikováno v:
In Power Electronic Devices and Components March 2023 4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gammon P.M., Chan C.W., Gity F., Trajkovic T., Kilchytska V., Fan L., Pathirana V., Camuso G., Ben Ali K., Flandre D., Mawby P.A., Gardner J.W.
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 16, p 12003 (2017)
A new generation of power electronic semiconductor devices are being developed for the benefit of space and terrestrial harsh-environment applications. 200-600 V lateral transistors and diodes are being fabricated in a thin layer of silicon (Si) wafe
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0dd4f01de6134216a5eee2a56425504d
Publikováno v:
International Journal of Numerical Methods for Heat & Fluid Flow, 1995, Vol. 5, Issue 2, pp. 185-192.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/EUM0000000004117
Autor:
Pérez-Tomás, A., Jennings, M.R., Gammon, P.M., Roberts, G.J., Mawby, P.A., Millán, J., Godignon, P., Montserrat, J., Mestres, N.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2008 85(4):704-709
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 1994, Vol. 13, Issue 4, pp. 743-756.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb051892
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 1994, Vol. 13, Issue 4, pp. 735-742.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb051891
Autor:
BOARD, K., MAWBY, P.A.
Publikováno v:
International Journal of Numerical Methods for Heat & Fluid Flow, 1992, Vol. 2, Issue 4, pp. 291-298.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb017496
Autor:
Pérez-Tomás, A., Jennings, M.R., Davis, M., Shah, V., Grasby, T., Covington, J.A., Mawby, P.A.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal December 2007 38(12):1233-1237