Zobrazeno 1 - 10
of 300
pro vyhledávání: '"Maurine, Philippe"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Cryptographic Engineering; Nov2023, Vol. 13 Issue 4, p409-425, 17p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal April 2012 43(4):263-273
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
15ème Colloque National du GDR SoC²
15ème Colloque National du GDR SoC², Jun 2021, Rennes, France
15ème Colloque National du GDR SoC², Jun 2021, Rennes, France
National audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::743fd5aa43ba662205a4c1b5ba038787
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03358670/file/poster.pdf
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03358670/file/poster.pdf
Revisiting Mutual Information Analysis: Multidimensionality, Neural Estimation and Optimality Proofs
Publikováno v:
Cryptology ePrint Archive
Cryptology ePrint Archive, 2021, pp.1518
Cryptology ePrint Archive, 2021, pp.1518
International audience; Recent works showed how Mutual Information Neural Estimation (MINE) could be applied to side-channel analysis in order to evaluate the amount of leakage of an electronic device. One of the main advantages of MINE over classica
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3515::3d4091545c174ad8b9cb9b442082a761
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03628255/document
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03628255/document
Autor:
Toulemont, Julien, Ouldei-Tebina, Nasr-Eddine, Galliere, Jean-Marc, Nouet, Pascal, Bourbao, Eric, Maurine, Philippe
Several electromagnetic fault injection (EMFI) platforms have been developed these last years. They rely on different technical solutions and figures of merit used in the related datasheets or publications are also different. This renders difficult t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::2a066c4b3ad3745350120101f6145920
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03626807
Publikováno v:
In Integration, the VLSI Journal 2006 39(4):433-456