Zobrazeno 1 - 10
of 12
pro vyhledávání: '"Maurice H. Hanes"'
Autor:
Anant K. Agarwal, Maurice H. Hanes, M.C. Driver, Terence W O'keeffe, J.R. Szedon, R.R. Siergiej, H.M. Hobgood, T.J. Smith, Harvey C. Nathanson, C.D. Brandt, R.N. Thomas
Publikováno v:
IEEE International SOI Conference.
Publikováno v:
Proceedings of the 1989 International Conference on Microelectronic Test Structures.
A top-contact-resistor test structure, measurements made to validate its operation, and supporting analysis for VLSI process monitoring are described. The structure was devised to simulate the ability of a Van de Pauw test structure to provide reliab
Autor:
H.M. Hobgood, Maurice H. Hanes, P.G. McMullin, A.K. Agarwal, J.R. Szedon, R.N. Thomas, Harvey C. Nathanson, Terence W O'keeffe, M.C. Driver, T.J. Smith
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1991 [Technical Digest].
An advanced silicon technology is presented which is capable of producing highly reliable and affordable MMICs (monolithic microwave integrated circuits) integrated with high-speed CMOS digital functions as replacements for costly GaAs hybrids curren
Autor:
Maurice H. Hanes, R.R. Siergiej, J.R. Szedon, Harvey C. Nathanson, Terence W O'keeffe, T.J. Smith, M.C. Driver, R.N. Thomas, P.G. McMullin, H.M. Hobgood, Anant K. Agarwal
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 14:219-221
An improved silicon-on-insulator (SOI) approach offers devices and circuits operating to 10 GHz by providing formerly unattainable capabilities in bulk silicon: reduced junction-to-substrate capacitances in FETs and bipolar transistors, inherent elec
Autor:
Edward J. Bair, Maurice H. Hanes
Publikováno v:
The Journal of Chemical Physics. 38:672-676
Photoelectric measurements of NH2 absorption as a function of time following an rf discharge pulse through ammonia are described. The extinction coefficient of the strong vibration—rotation line at 16725.40 cm—1 is found to be 1.02±0.10×103 lit
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Microwave Theory & Techniques; May98 Part 2 of 2, Vol. 46 Issue 5, p669, 8p, 7 Black and White Photographs, 1 Diagram, 10 Graphs