Zobrazeno 1 - 10
of 58
pro vyhledávání: '"Mauran, N."'
Autor:
Schwab, L, Allain, P, Mauran, N, Dollat, X, Mazenq, L, Lagrange, D, Gély, M, Hentz, S, Jourdan, G, Favero, I, Legrand, B
Atomic force microscopy (AFM) has been constantly supporting nanosciences and nanotechnologies for over 30 years, being present in many fields from condensed matter physics to biology. It enables measuring very weak forces at the nanoscale, thus eluc
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2109.02478
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability May 2023 144
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2015 55(11):2276-2283
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2013 53(9-11):1278-1283
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2008 48(8):1237-1240
RF MEMS are commonly known as electrostatic devices using high electric field for their actuation. They can be exposed to transient voltages in any environment, and are very sensitive. According to this point of view, it is necessary to understand an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2127::c6365594d5745710f63764982979620b
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3037162
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3037162
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.