Zobrazeno 1 - 10
of 163
pro vyhledávání: '"Mauran, N"'
Autor:
Schwab, L, Allain, P, Mauran, N, Dollat, X, Mazenq, L, Lagrange, D, Gély, M, Hentz, S, Jourdan, G, Favero, I, Legrand, B
Atomic force microscopy (AFM) has been constantly supporting nanosciences and nanotechnologies for over 30 years, being present in many fields from condensed matter physics to biology. It enables measuring very weak forces at the nanoscale, thus eluc
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2109.02478
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability May 2023 144
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2015 55(11):2276-2283
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gunasekaran V; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France.; CIRIMAT, CNRS-INP-UPS, Université Toulouse 3 Paul Sabatier, 118 Route de Narbonne, CEDEX 9, 31062 Toulouse, France., Yjjou S; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France., Hennequin E; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France., Camps T; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France.; Faculté des Sciences et Ingénierie, Université Toulouse III Paul Sabatier, 118 Rte de Narbonne, 31400 Toulouse, France., Mauran N; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France., Presmanes L; CIRIMAT, CNRS-INP-UPS, Université Toulouse 3 Paul Sabatier, 118 Route de Narbonne, CEDEX 9, 31062 Toulouse, France., Menini P; CNRS, LAAS-MICA, 7 Avenue du Colonel Roche, 31400 Toulouse, France.; Faculté des Sciences et Ingénierie, Université Toulouse III Paul Sabatier, 118 Rte de Narbonne, 31400 Toulouse, France.
Publikováno v:
Micromachines [Micromachines (Basel)] 2021 Nov 02; Vol. 12 (11). Date of Electronic Publication: 2021 Nov 02.
Autor:
Dutta, Chiranjit1,2 (AUTHOR), Krishnamurthy, Pannaga1,2 (AUTHOR), Su, Dandan3 (AUTHOR), Li, Jianwei1 (AUTHOR), Yoo, Sung Hyun4 (AUTHOR), Collie, Gavin W.5 (AUTHOR), Pasco, Morgane4 (AUTHOR), Fan, Jingsong1 (AUTHOR), Luo, Min1 (AUTHOR), Barboiu, Mihail3 (AUTHOR) mihail-dumitru.barboiu@umontpellier.fr, Guichard, Gilles4 (AUTHOR) g.guichard@iecb.u-bordeaux.fr, Kini, R. Manjunatha1,6 (AUTHOR) dbskinim@nus.edu.sg, Kumar, Prakash1,2 (AUTHOR) prakash.kumar@nus.edu.sg
Publikováno v:
Small Science. Aug2024, Vol. 4 Issue 8, p1-14. 14p.
RF MEMS are commonly known as electrostatic devices using high electric field for their actuation. They can be exposed to transient voltages in any environment, and are very sensitive. According to this point of view, it is necessary to understand an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2127::c6365594d5745710f63764982979620b
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3037162
https://pergamos.lib.uoa.gr/uoa/dl/object/uoadl:3037162
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zambrano-Rojas, Samuel1,2 (AUTHOR) geneescorcias@unicesar.edu.co, Fonthal, Gerardo3 (AUTHOR) gfonthal@uniquindio.edu.co, Escorcia-Salas, Gene Elizabeth2,4 (AUTHOR), Sierra-Ortega, José2 (AUTHOR) szambrano@uniguajira.edu.co
Publikováno v:
Materials (1996-1944). Mar2024, Vol. 17 Issue 6, p1399. 11p.