Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Matrosova, Anzhela"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика.
Structural scan based delay testing is used to detect delay faults. Because of the architectural limitations not each test pair v1, v2 can be applied by scan delay testing. That declines test coverage. Partial enhanced scan approach based on selectio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::e668f0168fa970fbbda4e180ecc890df
http://cyberleninka.ru/article_covers/14013556.png
http://cyberleninka.ru/article_covers/14013556.png
Publikováno v:
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика.
A method of deriving test pair v1, v2 for robust path delay fault (PDF) of special combinational circuit is suggested. Circuit is obtained by covering binary decision diagram (BDD) with look up table (LUT) based configurable logic blocks (CLBs). It i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2806::eec134338671925b4d2d4c6c5f9bd910
http://cyberleninka.ru/article/n/robust-pdfs-testing-of-combinational-circuits-based-on-covering-bdds
http://cyberleninka.ru/article/n/robust-pdfs-testing-of-combinational-circuits-based-on-covering-bdds
Publikováno v:
2015 IEEE 24th Asian Test Symposium (ATS); 2015, p25-30, 6p
Publikováno v:
2015 19th International Symposium on VLSI Design & Test; 2015, p1-2, 2p