Zobrazeno 1 - 10
of 917
pro vyhledávání: '"Matijević, E."'
Autor:
Matijević, E., Babu, S. E.
Publikováno v:
Kemija u Industriji, Vol 59, Iss 09, Pp 452-455 (2010)
The essential parts of interconnects for silicon based logic and memory devices consist of metal wiring (e.g. copper), a barrier metal (Ta, TaN), and of insulation (SiO2 , low-k polymer). The deposition of the conducting metal cannot be confined to t
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/42c33bce0f8d4966aae49748c3ce0932
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hattori, Y., Matijević, E.
Publikováno v:
In Journal of Colloid And Interface Science 2009 335(1):50-53
Autor:
Matijević, E., Babu, S.V.
Publikováno v:
In Journal of Colloid And Interface Science 2008 320(1):219-237
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Studies in Surface Science and Catalysis 2001 132:395-398
Autor:
Matijević, E.1
Publikováno v:
Colloid Journal. Jan2007, Vol. 69 Issue 1, p29-38. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.