Zobrazeno 1 - 10
of 31
pro vyhledávání: '"Materiais semicondutores"'
Autor:
Bresciani, Laís
Publikováno v:
Repositório Institucional da UNIVATES
Centro Universitário Univates (UNIVATES)
instacron:UNIVATES
Repositório Institucional da UNIVATES (Biblioteca Digital da Univates-BD)
Centro Universitário Univates (UNIVATES)
instacron:UNIVATES
Repositório Institucional da UNIVATES (Biblioteca Digital da Univates-BD)
Submitted by DHARA CARLESSO ZAMPIVA (dhara.zampiva@univates.br) on 2020-05-27T17:36:40Z No. of bitstreams: 2 license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) 2019LaisBresciani.pdf: 3434139 bytes, checksum: 38959e823fdb8468652c9a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c35d45bafd7948e08bc05ed3a528960d
Autor:
Bolzan, Charles Airton
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Filmes de In(0.5-x)AlxSb0.5 foram depositados sobre substratos de SiO2/Si, a 420°C, por co-sputtering dos alvos de InSb, Al e Sb e as suas propriedades estruturais foram investigadas com o auxílio das técnicas de Grazing incidence X-ray diffractio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::0ab3c9b992e8f049bf77fa9fa9759433
Autor:
Martins, Renato Juliano
Técnicas de formatação de pulsos permitem o controle das propriedades espectrais e temporais de um feixe laser criando novas possibilidades de estudo da interação luz-matéria. Neste trabalho estudamos as propriedades ópticas não-lineares via
Autor:
Renato Juliano Martins
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USPUniversidade de São PauloUSP.
Técnicas de formatação de pulsos permitem o controle das propriedades espectrais e temporais de um feixe laser criando novas possibilidades de estudo da interação luz-matéria. Neste trabalho estudamos as propriedades ópticas não-lineares via
Autor:
Salazar, Josiane Bueno
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSUniversidade Federal do Rio Grande do SulUFRGS.
Neste trabalho são apresentados os efeitos da irradiação iônica em lmes de InSb crescidos por epitaxia de feixe molecular e desbastamento iônico. As irradiações foram realizadas a temperatura ambiente, em incidência normal, com íons de Au a
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10183/173027
Autor:
Lima, Camila Faccini de
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
A Medida de Corrente Induzida por Feixe de Elétrons (EBIC - do inglês Electron Beam-induced Current ) é uma técnica focada nas propriedades de transporte dos portadores de carga minoritários em materiais semicondutores, permitindo a medição di
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::089c9b488f15ca75cc7204bdf03e285c
Autor:
Santos, Robinson Alves dos
Neste trabalho, cristais de TlBr foram crescidos e purificados pelo método de Bridgman Repetido, a partir de sais comerciais de TlBr, e caracterizados para serem usados como detectores de radiação à temperatura ambiente. Para avaliar a eficiênci
Autor:
Robinson Alves dos Santos
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USPUniversidade de São PauloUSP.
Neste trabalho, cristais de TlBr foram crescidos e purificados pelo método de Bridgman Repetido, a partir de sais comerciais de TlBr, e caracterizados para serem usados como detectores de radiação à temperatura ambiente. Para avaliar a eficiênci
Autor:
Angelo Malachias, Guinther Kellermann, E. Avendaño, A. A. M. Gasperini, Gustavo de Medeiros Azevedo, Angelo L. Gobbi, Gilberto Fernandes Lopes Fabbris
Publikováno v:
Repositório Institucional da UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
The formation of GeSi nanoparticles on an SiO2matrix is studied here by synchrotron-based techniques. The shape, average diameter and size dispersion were obtained from grazing-incidence small-angle X-ray scattering data. X-ray diffraction measuremen
Autor:
Lima, Camila Faccini de
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSUniversidade Federal do Rio Grande do SulUFRGS.
A Medida de Corrente Induzida por Feixe de Elétrons (EBIC - do inglês Electron Beam-induced Current ) é uma técnica focada nas propriedades de transporte dos portadores de carga minoritários em materiais semicondutores, permitindo a medição di
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/10183/172978