Zobrazeno 1 - 10
of 58
pro vyhledávání: '"Mastel, Stefan"'
Autor:
Mastel, Stefan, Govyadinov, Alexander A., Maissen, Curdin, Chuvilin, Andrey, Berger, Andreas, Hillenbrand, Rainer
Publikováno v:
ACS Photonics2018583372-3378, 2018
Scattering-type scanning near-field optical microscopy (s-SNOM) allows for nanoscale resolved Infrared (IR) and Terahertz (THz) imaging, and thus has manifold applications ranging from materials to biosciences. However, a quantitatively accurate unde
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1908.05068
Autor:
Schmidt, Peter, Vialla, Fabien, Latini, Simone, Massicotte, Mathieu, Tielrooij, Klaas-Jan, Mastel, Stefan, Navickaite, Gabriele, Danovich, Mark, Ruiz-Tijerina, David A., Yelgel, Celal, Falko, Vladimir, Thygesen, Kristian, Hillenbrand, Rainer, Koppens, Frank H. L.
The science and applications of electronics and optoelectronics have been driven for decades by progress in growth of semiconducting heterostructures. Many applications in the infrared and terahertz frequency range exploit transitions between quantiz
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1806.09519
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Etxeberria-Benavides, Miren, David, Oana, Johnson, Timothy, Łozińska, Magdalena M., Orsi, Angelica, Wright, Paul A., Mastel, Stefan, Hillenbrand, Rainer, Kapteijn, Freek, Gascon, Jorge
Publikováno v:
In Journal of Membrane Science 15 March 2018 550:198-207
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Liewald, Clemens, Mastel, Stefan, Hesler, Jeffrey, Huber, Andreas, Hillenbrand, Rainer, Keilmann, Fritz
Principle of Mixer and Tapping Demodulation
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::764c03e6932093c61247aebd9560ba42
Autor:
Mastel, Stefan
Publikováno v:
Addi. Archivo Digital para la Docencia y la Investigación
instname
instname
122 p. La microscopía óptica de dispersión de campo cercano (s-SNOM) y la espectroscopía de infrarrojo por trsnformada de Fourier (nano-FTIR) resuelta a escala nanométrica son técnicas de caracterización bien establecidas y fiables que proporc
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::8813d5ae4d916b63ba36385f32e3b3a6
http://hdl.handle.net/10810/32218
http://hdl.handle.net/10810/32218
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.