Population-based analysis of

Autor: Irving, Simonin-Wilmer, Raul, Ossio, Emmett M, Leddin, Mark, Harland, Karen A, Pooley, Mauricio Gerardo, Martil de la Garza, Sofia, Obolenski, James, Hewinson, Chi C, Wong, Vivek, Iyer, John C, Taylor, Julia A, Newton-Bishop, D Timothy, Bishop, Gerardo Andrés, Cisneros, Mark M, Iles, David J, Adams, Carla Daniela, Robles-Espinoza

Publikováno v: Journal of medical genetics.

Pathogenic germline variants in the protection of telomeres 1 gene (

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::64c3cf9fc9ad536181698f23c89b8e0c
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/36539277

Population-based analysis of POT1variants in a cutaneous melanoma case–control cohort

Autor: Simonin-Wilmer, Irving, Ossio, Raul, Leddin, Emmett M, Harland, Mark, Pooley, Karen A, Martil de la Garza, Mauricio Gerardo, Obolenski, Sofia, Hewinson, James, Wong, Chi C, Iyer, Vivek, Taylor, John C, Newton-Bishop, Julia A, Bishop, D Timothy, Cisneros, Gerardo Andrés, Iles, Mark M, Adams, David J, Robles-Espinoza, Carla Daniela

Publikováno v: Journal of Medical Genetics (JMG); 2023, Vol. 60 Issue: 7 p692-696, 5p

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Dispositivo De Silicio Para La Detección De Radiación Visible E Infrarroja A Temperatura Ambiente

Autor: Olea Ariza Javier, Gonzalez Diaz Germán, Martil De La Plaza Ignacio, Pastor Pastor David, Garcia Hemme Eric, Garcia Hernansanz Rodrigo, Del Prado Millan Alvaro, Fernandez Saez Pablo, Cimas Cuevas Rosa, Antonio Marti, Luque Lopez Antonio

Publikováno v: The Lens

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7aa0800889c6963de847a4ded38a1aa0
https://www.lens.org/081-035-389-094-330

Láminas delgadas de SiNx:H y SiOx depositadas mediante la técnica ECR-CVD para su aplicación en estructura MIS

Autor: García Sánchez, Silvia

Publikováno v: E-Prints Complutense: Archivo Institucional de la UCM
Universidad Complutense de Madrid
E-Prints Complutense. Archivo Institucional de la UCM
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La memoria presentada constituye un estudio en profundidad de la técnica electron-cyclotron resonance de deposito de laminas delgadas de los aislantes sinx: h y siox. Se han analizado los principales parámetros de producción que afectan a las prop

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a08a86298e74c0006201d72d08df3fe0
https://eprints.ucm.es/id/eprint/1966/1/T20846.pdf