Zobrazeno 1 - 10
of 99
pro vyhledávání: '"Marinković, Zlatica"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gugliandolo, Giovanni1 (AUTHOR) g.gugliandolo@ieee.org, Marinković, Zlatica2 (AUTHOR) zlatica.marinkovic@elfak.ni.ac.rs, Crupi, Giovanni3 (AUTHOR) crupig@unime.it, Campobello, Giuseppe1 (AUTHOR) ndonato@unime.it, Donato, Nicola1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Apr2022, Vol. 22 Issue 7, p2546. 15p.
Publikováno v:
Serbian Journal of Electrical Engineering, Vol 14, Iss 1, Pp 35-49 (2017)
This paper presents an analytical approach to determination of the noise wave model parameters for a high electron-mobility transistor working under different temperature and frequency conditions. The presented approach is composed of two steps an
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6f050322876f4af183037428ba98b0ef
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Marinković, Zlatica1 (AUTHOR) zlatica.marinkovic@elfak.ni.ac.rs, Crupi, Giovanni2 (AUTHOR), Caddemi, Alina3 (AUTHOR), Marković, Vera1 (AUTHOR), Schreurs, Dominique M.M.‐P.4 (AUTHOR)
Publikováno v:
International Journal of Numerical Modelling. May/Jun2020, Vol. 33 Issue 3, p1-14. 14p.
Applications of artificial neural networks for calculation of the Erlang B formula and its inverses.
Publikováno v:
Engineering Reports; Sep2023, Vol. 5 Issue 9, p1-12, 12p
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability March 2013 53(3):414-419