Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"Margenfeld, Christoph"'
Autor:
Spende, Hendrik, Margenfeld, Christoph, Meyer, Tobias, Clavero, Irene Manglano, Bremers, Heiko, Hangleiter, Andreas, Seibt, Michael, Waag, Andreas, Bakin, Andrey
Plasma profiling time of flight mass spectrometry (PP-TOFMS) has recently gained interest, as it enables the elemental profiling of semiconductor structures with high depth resolution in short acquisition times. As recently shown by Tempez et al., PP
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1909.12779
Autor:
Hoormann, Matthias, Lüßmann, Frederik, Margenfeld, Christoph, Ronning, Carsten, Meierhofer, Florian, Waag, Andreas
Publikováno v:
Physica Status Solidi (B); Nov2024, Vol. 261 Issue 11, p1-8, 8p
Sublimation behavior of AlN in nitrogen and argon at conditions used for high-temperature annealing.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/21/2023, Vol. 133 Issue 23, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Crystal Growth & Design; 1/3/2024, Vol. 24 Issue 1, p279-292, 14p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Physica Status Solidi. A: Applications & Materials Science; Aug2023, Vol. 220 Issue 16, p1-8, 8p