Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"María Eugenia Herrera López"'
Autor:
David Torres Torres, Ana María Arizmendi Morquecho, Eduardo Hurtado Delgado, María Eugenia Herrera López
Publikováno v:
Welding International. 32:607-617
Atomic Force Microscopy (AFM), a characterization technique that generates topographic images of surfaces at very high resolutions, works by recording the surface relief details of the mate...
Autor:
María Eugenia Herrera López
Publikováno v:
Corporación Mexicana de Investigación en Materiales
COMIMSA
Repositorio COMIMSA
COMIMSA
Repositorio COMIMSA
El presente trabajo surge de la necesidad de ampliar la comprensión del comportamiento de las soldaduras de aceros inoxidables Dúplex en condiciones de Corrosión Bajo Esfuerzos (Stress Corrosion Cracking) en condiciones de temperatura. La industri
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::63e66883418927b4a3f197c2a0fb80d3
http://comimsa.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1022/311
http://comimsa.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1022/311
Autor:
María Eugenia Herrera López, Eduardo Hurtado Delgado, David Torres Torres, Ana María Arizmendi Morquecho
Publikováno v:
Soldagem & Inspeção, Vol 21, Iss 2, Pp 237-250
Soldagem & Inspeção, Volume: 21, Issue: 2, Pages: 237-250, Published: JUN 2016
Soldagem & Inspeção v.21 n.2 2016
Revista soldagem & inspeção
Associação Brasileira de Soldagem (ABS)
instacron:ABS
Soldagem & Inspeção, Volume: 21, Issue: 2, Pages: 237-250, Published: JUN 2016
Soldagem & Inspeção v.21 n.2 2016
Revista soldagem & inspeção
Associação Brasileira de Soldagem (ABS)
instacron:ABS
Resumen La Microscopía de Fuerza Atómica (MFA), técnica de caracterización que genera imágenes topográficas de superficies a muy altas resoluciones, opera registrando los detalles de relieve superficial del material con un cantiléver que se mu