Výsledky vyhledávání - "Manickam, R.M."

Conference

Surface morphology of Ni-Fe thin films grown on copper substrates using pulse electrodeposition in ultrasonic field.

Autor: Balachandran, R., Yow, H.K., Ong, B.H., Manickam, R.M., Anuar, K., Teoh, W.T., Tan, K.B.

Publikováno v: 2008 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics; 2008, p491-494, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Simulated Dielectric Characteristics of Pt/BST/Ni-Fe/Cu Multilayer Capacitor Stack for Storage Application.

Autor: Balachandran, R., Yow, H.K., Manickam, R.M., Saaminathan, V.

Publikováno v: 2006 IEEE International Conference on Semiconductor Electronics; 2006, p1015-1018, 4p

Zobrazit plný text záznamu