Zobrazeno 1 - 10
of 110
pro vyhledávání: '"Manca, J.V."'
Autor:
Van Limbergen, T., Bonné, R., Hustings, J., Valcke, R., Thijs, S., Vangronsveld, J., Manca, J.V.
Publikováno v:
In Renewable and Sustainable Energy Reviews November 2022 169
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2008 516(20):7135-7138
Autor:
Haeldermans, I., Truijen, I., Vandewal, K., Moons, W., Van Bael, M.K., Haen, J. D’Haen, Manca, J.V., Mullens, J.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2008 516(20):7245-7250
Autor:
Manca, J.V., De Schepper, L., De Ceuninck, W., D'Olieslager, M., Stals, L.M., Barker, M.F., Pickering, C.R., Craig, W.A., Beyne, E., Roggen, J.
Publikováno v:
Microelectronics International: An International Journal, 1993, Vol. 10, Issue 2, pp. 5-11.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/eb044494
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vanlaeke, P., Swinnen, A., Haeldermans, I., Vanhoyland, G., Aernouts, T., Cheyns, D., Deibel, C., D’Haen, J., Heremans, P., Poortmans, J., Manca, J.V.
Publikováno v:
In Solar Energy Materials and Solar Cells 2006 90(14):2150-2158
Autor:
Manca, J.V., Wondrak, W., Schaper, W., Croes, K., Haen, J.D, De Ceuninck, W., Dieval, B., Hartnagel, H.L., D'Olieslaeger, M., De Schepper, L.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1679-1682
Autor:
d'Haen, J., Van Olmen, J., Beelen, Z., Manca, J.V., Martens, T., De Ceuninck, W., d'Olieslaeger, M., De Schepper, L., Cannaerts, M., Maex, K.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1407-1412
Autor:
D’Haen, J. *, Cosemans, P., Manca, J.V., Lekens, G., Martens, T., De Ceuninck, W., D’Olieslaeger, M., De Schepper, L., Maex, K.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1999 39(11):1617-1630
Autor:
Van Olmen, J. *, Manca, J.V., De Ceuninck, W., De Schepper, L., D’Haeger, V., Witvrouw, A., Maex, K., Vandevelde, B., Beyne, E., Tielemans, L.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 1999 39(11):1657-1665