Zobrazeno 1 - 10
of 293
pro vyhledávání: '"Maly W"'
Autor:
Huber, M., Nirschl, Th., Gstöttner, J., Heinitz, M., Zanon, Th., Maly, W., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1635-1640
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Maly, W., Singh, N., Chen, Z., Shen, N., Li, X., Pfitzner, A., Kasprowicz, D., Kuzmicz, W., Lin, Y., Marek-Sadowska, M.
Publikováno v:
2011 Proceedings of the 18th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits & Systems (MIXDES); 2011, p145-150, 6p
Publikováno v:
2009 IEEE International Symposium on Circuits & Systems; 2009, p449-452, 4p
Autor:
Weis, M., Pfitzner, A., Kasprowicz, D., Emling, R., Fischer, T., Henzler, S., Maly, W., Schmitt-Landsiedel, D.
Publikováno v:
2009 IEEE International Conference on IC Design & Technology; 2009, p169-172, 4p
Publikováno v:
2008 IEEE International Conference on Computer Design; 2008, p557-562, 6p
Publikováno v:
DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference; Jun2007, p954-957, 4p
Publikováno v:
Proceedings of the Design Automation & Test in Europe Conference; 2006, p1-6, 6p
Publikováno v:
ASP-DAC 2004: Asia & South Pacific Design Automation Conference 2004 (IEEE Cat. No.04EX753); 2004, p450-455, 6p
Autor:
Vogels, T., Zanon, T., Desineni, R., Blanton, R.D., Maly, W., Brown, J.G., Nelson, J.E., Fei, Y., Huang, X., Gopalakrishnan, P., Mishra, M., Rovner, V., Tiwary, S.
Publikováno v:
2004 International Conference on Test; 2004, p508-517, 10p