Zobrazeno 1 - 10
of 56
pro vyhledávání: '"Maistri, Paolo"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2022 139
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microprocessors and Microsystems November 2016 47 Part A:64-73
Publikováno v:
In Microprocessors and Microsystems November 2016 47 Part A:23-36
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Maistri, Paolo, Po, Jia Yun
In embedded systems, the presence of a security layer is now a well-established requirement. In order to guarantee the suitable level of performance and resistance against attacks, dedicated hardware implementations are often proposed to accelerate c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______166::48bb036e65956efdd2bb5ae062538b04
https://hal.science/hal-03614891
https://hal.science/hal-03614891
Autor:
Maistri, Paolo
Publikováno v:
European Nanoelectronics Applications, Design & Technology Conference (ADTC 2019)
European Nanoelectronics Applications, Design & Technology Conference (ADTC 2019), May 2019, Dresden, Germany
European Nanoelectronics Applications, Design & Technology Conference (ADTC 2019), May 2019, Dresden, Germany
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::49d3cd6150cd88d59ff03519a05b7428
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02143209
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02143209
Publikováno v:
13ème Colloque du GDR SoC/SiP
13ème Colloque du GDR SoC/SiP, Jun 2018, Paris, France
13ème Colloque du GDR SoC/SiP, Jun 2018, Paris, France
National audience; Des instruments de test sont embarqués dans les circuits pour réussir à tester des structures de plus en plus complexes. Il est possible d’accéder à ces instruments grâce à des réseaux de test sériel (scan), qui facilite
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d6f3da74a5c54ea1250da1fb1ac3b8d3
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01921182
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01921182
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alberto, Diego1,2 (AUTHOR), Maistri, Paolo1,2 (AUTHOR) Paolo.Maistri@imag.fr, Leveugle, Régis1,2 (AUTHOR)
Publikováno v:
Information Security Journal: A Global Perspective. 2013, Vol. 22 Issue 5/6, p237-243. 7p.