Výsledky vyhledávání - "Magali DeMatos"

Procédé de fabrication d’un circuit redresseur de puissance : de la fabrication de diodes Silicium à leur assemblage sur substrat métallisé d’alumine

Autor: Hélène Debéda, Alexandrine Gracia, Magali Dematos, Isabelle FAVRE, Bernard Plano, Jean Tomas, Reasmey Tan, Rouabhi, C., Marc Respaud

Publikováno v: JPCNFM 2021,16ième journées pédagogiques du CNFM Saint Malo
JPCNFM 2021,16ième journées pédagogiques du CNFM Saint Malo, Dec 2021, Saint-Malo, France
HAL

Les deux pôles CNFM (Coordination Nationale pour la Formation en Microélectronique et en nanotechnologies) de Toulouse et Bordeaux, AIME et PCB respectivement, ont associé leurs compétences pour créer des formations sur la thématique de l’él

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::dbab7957ef99727c94f6a4e0b8c5ec9c
https://hal.science/hal-03500175

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Design and measurement of a 2.5 GHz switched-mode CMOS power amplifier with reliability enhancement

Autor: Antoine Gros, Nathalie Deltimple, Heider Madureira, Eric Kerherve, Didier Belot, Magali Dematos, Sandro A. P. Haddad

Publikováno v: 2016 IEEE MTT-S International Wireless Symposium (IWS).

Design and measurement results of an integrated class EF2 power amplifier on CMOS technology are presented. The class EF2 power amplifier presents lower voltage stress than its class E counterpart due to waveform engineering. The presented circuit wa

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fa8150aaabcfad4be84334ff91cc0037
https://doi.org/10.1109/ieee-iws.2016.7585406

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Impact of on-Silicon De-Embedding Test Structures and RF Probes Design in the Sub-THz Range

Autor: Marina Deng, Sebastien Fregonese, Magali DeMatos, Bernard Plano, Chandan Yadav, Thomas Zimmer

Publikováno v: 2018 48th European Microwave Conference (EuMC)
HAL
2018 48th European Microwave Conference (EuMC), Sep 2018, Madrid, Spain

In this paper, we present on-wafer TRL calibration results up to 220 GHz using on-wafer fabricated test structures on the silicon substrate. For on-wafer TRL calibration, “Open-M1”, which is an important test structure used for transistor's de-em

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::53753b4e2cb45b8745555e380e0fc0b5

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