Zobrazeno 1 - 10
of 1 982
pro vyhledávání: '"Maes J"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Anaesthesiologica Belgica; May2024, Vol. 75 Issue 2, p107-115, 9p
Publikováno v:
In Journal of Stomatology oral and Maxillofacial Surgery June 2020 121(3):242-247
Publikováno v:
In Ecosystem Services February 2019 35:43-51
Autor:
Brinkhues, S., van Kuijk, S. M. J., Hoebe, C. J. P. A., Savelkoul, P. H. M., Kretzschmar, M. E. E., Jansen, M. W. J., de Vries, N., Sep, S. J. S., Dagnelie, P. C., Schaper, N. C., Verhey, F. R. J., Bosma, H., Maes, J., Schram, M. T., Dukers-Muijrers, N. H. T. M.
Publikováno v:
Epidemiology and Infection, 2018 Apr 01. 146(5), 533-543.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/26523260
Publikováno v:
In Land Use Policy June 2018 75:77-91
Autor:
Moersberger, H., Martin, J.G.C., Valdez, J., Junker, J., Georgieva, I., Bauer, S., Beja, P., Breeze, T., Brotons, L., Bruelheide, H., Fernández, N., Fernandez, M., Jandt, U., Langer, C., Solheim, A.L., Maes, J., Moreira, F., Pe'er, G., Santana, J., Shamoun-Baranes, J., Smets, B., McCallum, I., Pereira, H.M., Bonn, A.
Current biodiversity monitoring in Europe is fragmented and often inconsistent across countries. Monitoring efforts face multiple challenges including insufficient technical and human capacity, limited funding, data unavailability, and lack of long-t
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3535::55c72671d8652b80a8761a233d3d61c1
https://pure.iiasa.ac.at/id/eprint/18697/
https://pure.iiasa.ac.at/id/eprint/18697/
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Vanhamel, J., Fussen, D., Dekemper, E., Neefs, E., Van Opstal, B., Pieroux, D., Maes, J., Van Lil, E., Leroux, P.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):2103-2107