Výsledky vyhledávání - "Maes, J. W. F. M."

Akademický článek

Characterization of sharp phosphorus dopant features in silicon by secondary ion mass spectrometry.

Autor: Vriezema, C. J., Zalm, P. C., Maes, J. W. F. M., Roksnoer, P. J.

Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 1991, Vol. 9 Issue 4, p2402-2404, 3p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Ultralong minority-carrier lifetimes in GaAs grown by low-pressure organometallic vapor phase epitaxy.

Autor: Molenkamp, L. W., Kampschöer, G. L. M., de Lange, W., Maes, J. W. F. M., Roksnoer, P. J.

Publikováno v: Applied Physics Letters; 5/15/1989, Vol. 54 Issue 20, p1992, 3p

Zobrazit plný text záznamu