Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Maeda, Nobuhide"'
Autor:
Kim, Young Suk, Maeda, Nobuhide, Kitada, Hideki, Fujimoto, Koji, Kodama, Shoichi, Kawai, Akihito, Arai, Kazuhisa, Suzuki, Kousuke, Nakamura, Tomoji, Ohba, Takayuki
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering July 2013 107:65-71
Autor:
Ohba, Takayuki, Maeda, Nobuhide, Kitada, Hideki, Fujimoto, Koji, Suzuki, Kousuke, Nakamura, Tomoji, Kawai, Akihito, Arai, Kazuhisa
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(3):485-490
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mizushima, Yoriko, Kim, Youngsuk, Nakamura, Tomoji, Kodama, Shoichi, Maeda, Nobuhide, Fujimoto, Koji, Ohba, Takayuki
Publikováno v:
2014 International 3D Systems Integration Conference (3DIC); 2014, p1-5, 5p
Autor:
Liao, Sue-Chen, Chen, Erh-Hao, Chen, Chien-Chou, Chen, Shang-Chun, Chen, Jui-Chin, Chang, Po-Chih, Chang, Yiu-Hsiang, Lin, Cha-Hsin, Ku, Tzu-Kun, Kao, Ming-Jer, Kim, Young Suk, Maeda, Nobuhide, Kodama, Shoichi, Kitada, Hideki, Fujimoto, Koji, Ohba, Takayuki
Publikováno v:
2014 IEEE 64th Electronic Components & Technology Conference (ECTC); 2014, p1853-1856, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fujimotc, Koji, Yoshimi, Seiichi, Maeda, Nobuhide, Kodama, Shoichi, Kim, Young Suk, Kitada, Hideki, Mizushima, Yoriko, Nakamura, Tomoji, Suzuki, Kousuke, Ohba, Takayuki
Publikováno v:
2013 Symposium on Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP); 2013, p1-5, 5p
Autor:
Nakamura, Tomoji, Kitada, Hideki, Mizushima, Yoriko, Maeda, Nobuhide, Fujimoto, Koji, Ohba, Takayuki
Publikováno v:
2011 IEEE International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2011 IEEE International; 1/ 1/2011, p1-4, 4p
Autor:
Takirnoto, Yoshio1 takimotoy@casmat.or.jp, Maeda, Nobuhide1 maeda@sogo.t.u-tokyo.ac.jp
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. May2009, Vol. 22 Issue 2, p317-320. 4p. 2 Black and White Photographs, 2 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.