Zobrazeno 1 - 5 of 5 pro vyhledávání: '"Maddux, J. R."'
1
Akademický článek
Low-level leakage currents in thin silicon oxide films.
Autor: Dumin, D. J., Cooper, J. R., Maddux, J. R., Scott, R. S., Wong, D.-P.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/1/1994, Vol. 76 Issue 1, p319, 9p, 2 Diagrams, 9 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Characterizing wearout, breakdown, and trap generation in thin silicon oxide.
Autor: Dumin, D. J., Maddux, J. R., Subramoniam, R., Scott, R. S., Vanchinathan, S., Dumin, N. A., Dickerson, K. J., Mopuri, S., Gladstone, S. M., Hughes, T. W.
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1995, Vol. 13 Issue 4, p1780-1787, 8p
Zobrazit plný text záznamu
3
Periodical
Improving yield and performance in pseudo-ternary thermoelectric alloys (Bi~2Te~3)(Sb~2Te~3)(Sb~2Se~3)
Autor: Ettenberg, M. H., Maddux, J. R., Taylor, P. J., Jesser, W. A., Rosi, F. D.
Publikováno v: Journal of Crystal Growth; 1997, Vol. 179 Issue: 3 p495-502, 8p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Stress Induced Increased Low Level Leakage in Thin Oxides.
Autor: Dumin, D. J., Maddux, J. R., Wong, D.-P.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 02/26/1992, Vol. 284, pN.PAG-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Measurement of High Voltage Stress Induced Traps Inside Thin Silicon Oxide Films.
Autor: Dumin, D. J., Maddux, J. R.
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 02/26/1992, Vol. 284, pN.PAG-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje