Zobrazeno 1 - 10
of 79
pro vyhledávání: '"M.Y. Ghannam"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the 1988 Bipolar Circuits and Technology Meeting.
Detailed two dimensional simulations were carried out on side-wall spacer self-aligned (1) polysilicon emitter bipolar transistor and (2) low-temperature epitaxial emitter bipolar transistor. It is shown that the lateral extrinsic-base-to-intrinsic-b
Publikováno v:
ICM'99. Proceedings. Eleventh International Conference on Microelectronics (IEEE Cat. No.99EX388).
A thin solar cell with light trapping obtained via diffuse (lambertian) back surface reflection is analyzed. An accurate closed form expression is derived for the generation profile. The enhancement of the photogenerated current is estimated. The res
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Le Journal de Physique Colloques. 49:C4-275
Shockley-Read-Hall recombination center density due to the localized states in the minority carrier band tail has been calculated, It is shown that in heavily doped silicon, the effect of these band tail states is comparable to or more important than
The propagation delay T of an Emitter-Coupled-Logic (ECL) gate is studied as a function of the different device aind circuit. parameters involved. It is found that the delay in the response of the switching transistor is the dominant delay component.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c03e47e44bb5fb4e8c1ed8d7993067a9
https://doi.org/10.1007/978-3-642-52314-4_169
https://doi.org/10.1007/978-3-642-52314-4_169