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pro vyhledávání: '"M.SEVERI"'
Publikováno v:
Relazione interna, Febbraio 1981, 1981
Attività svolta nell'ambito della collaborazione fra Istituto LAMEL, CNR e SGS ATES, incentrata sulle applicazioni del laser e dell'irraggiamento con elettroni alla tecnologia MOS. Caratterizzazione di strati di silicio policristallino e monocristal
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http://www.cnr.it/prodotto/i/385998
http://www.cnr.it/prodotto/i/385998
Autor:
S.R.AMENDOLA, A.BARONCELLI, G.BELLINI, E.BERTOLUCCI, G.BOLOGNA, C.BOSIO, C.BRADASCHIA, A.CANTORE, R.CAR, A.DEL-GUERRA, B.D'ETTORRE-PIAZZOLI, M.DI-CORATO, F.L.FABBRI, L.FOA', A.GIAZOTTO, M.GIORG, I P.F.MANFREDI, G.MATONE, G.MATTHIAE, A.MENZIONE, F.PALOMBO, P.PICCHI, G.PIERAZZINI, P.G.RANCOITA, A.REALE, P.REHAK, L.RISTORI, L.SATTA, A.SCRIBANO, M.SEVERI, P.SPILLANTINI, A.STEFANINI, G.VEGNI, L.VINCELLI, R.VISENTIN
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