Zobrazeno 1 - 10
of 37
pro vyhledávání: '"M.M. Ivashchenko"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Superlattices and Microstructures. 88:600-608
Bi 2 O 3 thin films were deposited on ultrasonically-cleaned glass and mica substrates by close-spaced vacuum sublimation technique. Films surface morphology was studied using scanning electron microscopy (SEM). Structural study based on the transmis
Autor:
Anatoliy Opanasyuk, Viacheslav Ivanovych Perekrestov, V. Kosyak, V.M. Kolomiets, Yu. P. Gnatenko, M.M. Ivashchenko
Publikováno v:
Vacuum. 119:81-87
The polycrystalline CdSe films were deposited by the close-spaced vacuum sublimation technique at the different substrate temperatures (373–873 K). Surface morphology, grain size and growth mechanism of the films were determined by the scanning ele
Autor:
Dahyun Nam, Ja. G. Vaziev, Hyeonsik Cheong, M.M. Ivashchenko, Anatoliy Opanasyuk, I. P. Buryk, V.V. Bibyk
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing. 36:13-19
ZnSe thin films were deposited on well-cleaned glass substrates by the close-spaced vacuum sublimation technique. Various structural, sub-structural and optical properties have been investigated through scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffr
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing. 26:663-668
CdSe polycrystalline films were deposited by a close-spaced vacuum sublimation method at different substrate temperatures ( T s ) using glass slides as substrates. At T s ≤673 K the films have a structure with strong dispersion of grain size ( d )
Publikováno v:
Journal of Luminescence. 146:174-177
Polycrystalline CdSe thin films (d=0.1–3.0 μm) have been deposited on a glass substrate by means of the close-spaced vacuum sublimation technique. X-ray diffraction measurements have shown that the films obtained at Тs>473 K have only wurtzite ph
Publikováno v:
2016 International Conference on Nanomaterials: Application & Properties (NAP).
In this work a structural and functional study of as-deposited and annealed iron (Fe) and nickel (Ni) heterogenous thin films deposited by electron-beam evaporation is carried out. For structural analysis are used transmission electron microscopy (TE
Publikováno v:
Journal of Nano- and Electronic Physics. 9:01011-1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.