Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"M.G. Shlepr"'
Publikováno v:
1991 Proceedings 41st Electronic Components & Technology Conference.
Visually acceptable, laser-trimmed nickel-chromium (nichrome) resistors were investigated for electrical stability after microanalysis data showed residual material in the lazed area. Electrical testing indicates that the amount of residual material
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Electrical data from chromium-silicon-carbon (CrSiC) thin film resistors (tfr) consistently showed highly variable contact resistance (Rc) to the aluminum (Al) interconnect. Transmission electron microscopy data from CrSiC/Al interfaces exhibiting hi
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.