Zobrazeno 1 - 10
of 66
pro vyhledávání: '"M.F. Hsieh"'
Publikováno v:
IEEE Electron Device Letters. 28:39-41
In this letter, a novel structure of polycrystalline-silicon thin-film transistors (TFTs) with self-aligned raised source/drain (SARSD) and a thin channel has been developed and investigated. In the proposed structure, a thick SD and a thin active re
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6ffa0bf179e146a20863242674c8dfdc
https://doi.org/10.1109/led.2006.887933
https://doi.org/10.1109/led.2006.887933
Publikováno v:
2007 9th International Conference on e-Health Networking, Application and Services.
Became of the world's rapidly-aging population' costs for healthcare are getting higher and higher due partially to people who failed to comply with their medication regimens costing billion per year and affecting few million patients. This paper pre
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e9dd68dee3f49f9a02b4dbde4f730b56
https://doi.org/10.1109/health.2007.381614
https://doi.org/10.1109/health.2007.381614
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M.F. Hsieh, Y.S. Hsu
Publikováno v:
INTERMAG Asia 2005. Digests of the IEEE International Magnetics Conference, 2005..
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::56513d2ef04af3e7484b29e1dc478ba3
https://doi.org/10.1109/intmag.2005.1463788
https://doi.org/10.1109/intmag.2005.1463788
Publikováno v:
11th IEEE International Conference on Advanced Thermal Processing of Semiconductors. RTP 2003.
In CMOS ULSI circuits, chip size reduction through shrinking of design rules and device scaling place an increasing demand on tolerable limits of interconnection resistance. As the industry search for a better substitute, cobalt salicide was found di
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0ddbd622864b08d2ae8215f49038798b
https://doi.org/10.1109/rtp.2003.1249143
https://doi.org/10.1109/rtp.2003.1249143
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.