Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"M.A. Xiaosong"'
Autor:
Kaspar M. B. Jansen, Hélène Fremont, M.A. Xiaosong, Patrick Poirier, Charles Regard, Christian Gautier
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 49:958-962
For the purpose of rapidly identifying the functional weak points of SiP products and defining appropriate design rules, a new methodology is proposed to achieve fast reliability qualification. This new methodology is based on the moisture absorption
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e8bcbc2b23054137863bc54f34622f63
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.07.042
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2009.07.042
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.