Zobrazeno 1 - 10
of 93
pro vyhledávání: '"M.A. Signore"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
M.A. Signore, L. Velardi, C. De Pascali, I. Kuznetsova, L. Blasi, F. Biscaglia, F. Quaranta, P. Siciliano, L. Francioso
Publikováno v:
Applied Surface Science. 599:154017
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fabio Quaranta, Pietro Siciliano, Zifan Che, M.A. Signore, Antonietta Taurino, Massimo Catalano, Moon J. Kim
Publikováno v:
Materials & design 119 (2017): 151–158. doi:10.1016/j.matdes.2017.01.035
info:cnr-pdr/source/autori:Signore, M. A.; Taurino, A.; Catalano, M.; Kim, M.; Che, Z.; Quaranta, F.; Siciliano, P./titolo:Growth assessment of (002)-oriented AN thin films on Ti bottom electrode deposited on silicon and kapton substrates/doi:10.1016%2Fj.matdes.2017.01.035/rivista:Materials & design/anno:2017/pagina_da:151/pagina_a:158/intervallo_pagine:151–158/volume:119
Materials & Design, Vol 119, Iss, Pp 151-158 (2017)
info:cnr-pdr/source/autori:Signore, M. A.; Taurino, A.; Catalano, M.; Kim, M.; Che, Z.; Quaranta, F.; Siciliano, P./titolo:Growth assessment of (002)-oriented AN thin films on Ti bottom electrode deposited on silicon and kapton substrates/doi:10.1016%2Fj.matdes.2017.01.035/rivista:Materials & design/anno:2017/pagina_da:151/pagina_a:158/intervallo_pagine:151–158/volume:119
Materials & Design, Vol 119, Iss, Pp 151-158 (2017)
In the present work, the sputtering deposition conditions allowing the achievement of (002)-oriented aluminum nitride (AlN) thin films on titanium (Ti) bottom electrode were assessed on both silicon and kapton substrates. The AlN grain orientation wa
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3b28ddc305af384da2ddcd90aad0a6ad
http://www.cnr.it/prodotto/i/427241
http://www.cnr.it/prodotto/i/427241
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.