Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"M.A. El-Sherbiny"'
Publikováno v:
Ceramics International. 49:8709-8717
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b066f2cb8e03ac5455c6b0712af9efcf
https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2022.10.020
https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2022.10.020
Publikováno v:
International Journal of Biological Sciences, Vol 7, Iss 6, Pp 715-728 (2011)
Phytotherapy is frequently considered to be less toxic and free from side effects than synthetic drugs. Hence, the present study was designed to investigate the protective use of crude water extract of Morus alba leaves on ocular functions including
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/273b48615a28478ea54bde6a5acf2277
Autor:
M.A. El-Sherbiny, Amoura M. Abou-El-Naga, Mohamed A. Sobh, M.A.N. Ibrahim, Shaker A. Mousa, Hassan I. El-Sayyad
Publikováno v:
International Journal of Biological Sciences
Phytotherapy is frequently considered to be less toxic and free from side effects than synthetic drugs. Hence, the present study was designed to investigate the protective use of crude water extract of Morus alba leaves on ocular functions including
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7c021c67a5ed3d1a53c6e92f5ac86e93
https://doi.org/10.7150/ijbs.7.715
https://doi.org/10.7150/ijbs.7.715
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 168:510-520
Fluence (Φ) dependence of interband critical points (CPs) can help to monitor the variation of band structure in crystalline–amorphous (c–a) silicon interfaces under ion implantation. Silicon wafers 〈1 0 0〉 were implanted in the range of 200
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4b8849320b0593dcf47178caf5dbeb15
https://doi.org/10.1016/s0168-583x(00)00067-7
https://doi.org/10.1016/s0168-583x(00)00067-7
Publikováno v:
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B : Beam interactions with materials and atoms, 147(1-4), 90-95. Elsevier
Damage created by ion implantation of 150 keV Ne+ and 800 keV Ar+ ions in single-crystalline silicon was characterized using Spectroscopic Ellipsometry (SE) and Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) in combination with channeling. Results from
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::238d728c12e4e4390b78269480ed0bdb
https://doi.org/10.1016/s0168-583x(98)00594-1
https://doi.org/10.1016/s0168-583x(98)00594-1
Autor:
M.A. El-Sherbiny, József Gyulai, M. Ádám, I. Pintér, Edit Szilágyi, István Bársony, Nguyen Quoc Khánh, Cs. Dücső
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
Phosphorus ions were implanted using plasma immersion ion implantation (PII) to create shallow pn junctions in solar cells. Depths of PII phosphorous were shallow enough to be analyzed by Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) combined with the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7735581f2c1903fe5767215f17484ff4
https://doi.org/10.1016/0168-583x(96)80062-0
https://doi.org/10.1016/0168-583x(96)80062-0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.