Zobrazeno 1 - 10
of 3 036
pro vyhledávání: '"M. Yun"'
Publikováno v:
Journal of Antitrust Enforcement. 10:419-442
Critical loss analysis is an empirical tool used to define relevant markets in antitrust law. The existence of two different critical loss methodologies, however, complicates its application. Harris and Simons introduced the first approach, which foc
UV-FIR SED modeling is an effective way to disentangle emission between star formation (SF) and active galactic nuclei (AGN) in galaxies; however, this approach becomes uncertain for composite AGN/SF galaxies that comprise 50-70% of IR-samples. Cosmi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4acabc8292b0b460a8b3295bd4f16507
http://arxiv.org/abs/2302.10374
http://arxiv.org/abs/2302.10374
Autor:
John M. Yun, Douglas H. Ginsburg, Bruce H. Kobayashi, Abbott B. Lipsky, Alexander Raskovich, Joshua D. Wright
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Autor:
Abbott B. Lipsky, Douglas H. Ginsburg, Bruce H. Kobayashi, Alexander Raskovich, Joshua D. Wright, John M. Yun
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Autor:
Alexander Raskovich, Douglas H. Ginsburg, Bruce H. Kobayashi, Abbott B. Lipsky, Joshua D. Wright, John M. Yun
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Autor:
Alexander Raskovich, Douglas H. Ginsburg, Joshua D. Wright, John M. Yun, Bruce H. Kobayashi, Abbott B. Lipsky
Publikováno v:
SSRN Electronic Journal.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.