Zobrazeno 1 - 10
of 146
pro vyhledávání: '"M. Van Craen"'
Autor:
Almaci, Meyrem, Van Craen, Maarten
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3848::b24ba4891db011af68fd11836b6d5ea6
https://biblio.vub.ac.be/vubir/almaci-m--van-craen-m-2005-verweesd-verdwaald-verloren-allochtonen-in-het-vlaams-universitair-landschap-in-tijdschrift-voor-onderwijsrecht-en-onderwijsbeleid-jaargang-20042005-nr-23-blz-123-135(54d71062-b484-4a7d-bf10-3877c3bf1087).html
https://biblio.vub.ac.be/vubir/almaci-m--van-craen-m-2005-verweesd-verdwaald-verloren-allochtonen-in-het-vlaams-universitair-landschap-in-tijdschrift-voor-onderwijsrecht-en-onderwijsbeleid-jaargang-20042005-nr-23-blz-123-135(54d71062-b484-4a7d-bf10-3877c3bf1087).html
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Analytica Chimica Acta. 161:53-64
The possibilities of measuring depth profiles by secondary ion mass spectrometry are evaluated. The influence of different instrumental and experimental parameters on depth resolution in the profiles are studied: the effects of primary ion beam chara
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d23c5d8dab12ab3813b05e31d1dd02eb
https://doi.org/10.1016/s0003-2670(00)85776-1
https://doi.org/10.1016/s0003-2670(00)85776-1
SIMS study of the penetration of metallic secondary impurities in screen-printed silicon solar cells
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis. 6:257-260
The penetration of metallic B, Ti, Fe, Cu and Ag in silicon solar cells was studied. They were prepared using the screen printing process for metallization. The level and depth of penetration were determined using secondary ion mass spectrometry (SIM
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7b5f406300ac3aaacaed3e7d85cc0f0f
https://doi.org/10.1002/sia.740060602
https://doi.org/10.1002/sia.740060602
Publikováno v:
Analytical Chemistry. 54:1786-1792
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9bfa39710d45dbb2db5d56a777b41e95
https://doi.org/10.1021/ac00248a029
https://doi.org/10.1021/ac00248a029
Publikováno v:
Atmospheric Environment (1967). 14:879-893
Aerosols were collected with a high-volume sampler for 8–20 day periods from July 1975 to August 1977 at a remote mountain location near La Paz, Bolivia. The elemental composition was determined by energy-dispersive X-ray fluorescence analysis, ins
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b69437242a384cc8d898945564b3ff83
https://doi.org/10.1016/0004-6981(80)90002-5
https://doi.org/10.1016/0004-6981(80)90002-5
Autor:
L.J.A. Van Beek, M. Van Craen
Publikováno v:
Microchimica Acta. 82:1-17
The corrosion products were identified using laser microprobe mass analysis to be mainly Al oxides (hydroxides), Al sulphates and Al chlorides. Electron probe microanalysis showed the layered structure of the corroded wire and indicated the high chlo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0510ad71f4e525210716b54c221ebf4c
https://doi.org/10.1007/bf01202157
https://doi.org/10.1007/bf01202157