Výsledky vyhledávání

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "M. Tahoori"
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 105 pro vyhledávání: '"M. Tahoori"'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Reliability of Computing-In-Memory Concepts Based on Memristive Arrays

Autor: D. J. Wouters, L. Brackmann, A. Jafari, C. Bengel, M. Mayahinia, R. Waser, S. Menzel, M. Tahoori

Publikováno v: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ab341ac1d43661602a38d7d5f24cf835
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019423

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 2 2

A failure analysis framework of ReRAM In-Memory Logic operations

Autor: L. Brackmann, A. Jafari, C. Bengel, M. Mayahinia, R. Waser, D. Wouters, S. Menzel, M. Tahoori

Publikováno v: 2022 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia).

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e222c1d27144551ca40e66090f9ba050
https://doi.org/10.1109/itcasia55616.2022.00022

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Machine learning based soft error rate estimation of pass transistor logic in high-speed communication

Autor: Z. Zhang, J. Lappas, A. Chinazzo, C. Weis, Z. Wu, L. Ni, N. Wehn, M. Tahoori

Publikováno v: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS).

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9a3c237f483b5609b7021e106630f6f6
https://doi.org/10.1109/ets54262.2022.9810410

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 8 8

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 9 9

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[11]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

70 Konferenční materiály
28 Akademické články
4 Knihy
1 Recenze

7 reliability
5 sram
4 fault injection
4 memory test
3 cache
3 deep neural networks
3 electromigration
3 mram
3 neural network accelerators
3 soft error
3 test pattern generation
2 aging
2 analog computing
2 computation in memory
2 computation-in-memory (cim)
2 dependability
2 emerging memories
2 finfet
2 fpga
2 gem5
2 hyperdimensional computing
2 in-memory computing
2 iot
2 low power
2 machine learning
2 nbti
2 oxide electronics
2 printed electronics
2 test compaction
2 variability
2 voltage scaling
1 abstraction levels
1 adder
1 aging prediction
1 ai
1 ai accelerators
1 albumin level
1 analytical hierarchy process
1 application level
1 approximate learning
1 architecture level
1 benchmarking
1 bist
1 built-in self-test (bist)
1 cache memory
1 chip layout
1 chip reliability
1 cloud
1 cnn
1 combinational circuits

51 institute of electrical and electronics engineers inc.
22 ieee computer society
4 association for computing machinery
3 ieee
1 american institute of physics inc.
1 association for computing machinery, inc
1 de gruyter oldenbourg
1 elsevier b.v.
1 inderscience publishers
1 institution of engineering and technology
1 korean institute of industrial engineers
1 kowsar medical institute
1 mdpi
1 mdpi ag
1 ruhr-university of bochum
1 springer
1 springer international publishing
1 springer new york
1 wiley-vch
1 wiley-vch verlag

11 proceedings of the ieee vlsi test symposium
8 proceedings -design, automation and test in europe, date
7 proceedings of the european test workshop
6 ieee design and test
4 proceedings - design automation conference
3 proceedings - international test conference
3 proceedings of the asia and south pacific design automation conference, asp-dac
2 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
2 journal of low power electronics and applications
2 proceedings - 2023 33rd international conference on field-programmable logic and applications, fpl 2023
2 proceedings of ieee computer society annual symposium on vlsi, isvlsi
2 proceedings of the 2024 ieee international symposium on hardware oriented security and trust, host 2024
2 proceedings of the acm great lakes symposium on vlsi, glsvlsi
1 2013 23rd international conference on field programmable logic and applications, fpl 2013 - proceedings
1 2022 ieee european test symposium (ets)
1 2022 international electron devices meeting (iedm)
1 acm transactions on design automation of electronic systems
1 advanced materials
1 advanced materials deerfield beach fla
1 applied physics letters
1 conference digest - 24th international conference on field programmable logic and applications, fpl 2014
1 cross-layer reliability of computing systems
1 embedded systems design with fpgas
1 embedded systems week 2011, esweek 2011 - proceedings of the 9th ieee/acm/ifip international conference on hardware/software codesign and system synthesis, codes+isss'11
1 formal proceedings of the 2016 ieee 19th international symposium on design and diagnostics of electronic circuits and systems, ddecs 2016
1 fpga 2017 - proceedings of the 2017 acm/sigda international symposium on field-programmable gate arrays
1 fpt 2012 - 2012 international conference on field-programmable technology
1 iacr transactions on cryptographic hardware and embedded systems
1 ieee electron device letters
1 ieee international reliability physics symposium proceedings
1 ieee transactions on computers
1 ieee transactions on electron devices
1 ieee transactions on magnetics
1 ieee transactions on multi-scale computing systems
1 ieee transactions on reliability
1 ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
1 industrial engineering and management systems
1 international journal of procurement management
1 it - information technology
1 journal of comprehensive pediatrics
1 microprocessors and microsystems
1 nato science for peace and security series c: environmental security
1 proceedings - 19th euromicro conference on digital system design, dsd 2016
1 proceedings - 2005 ieee international workshop on current and defect based testing, dbt 2005
1 proceedings - 2022 ieee 30th international symposium on field-programmable custom computing machines, fccm 2022
1 proceedings - 2023 ieee 29th international symposium on on-line testing and robust system design, iolts 2023
1 proceedings - 2023 international conference on compilers, architecture, and synthesis for embedded systems, cases 2023
1 proceedings - 2024 34th international conference on field-programmable logic and applications, fpl 2024
1 proceedings - 2024 ieee 30th international symposium on on-line testing and robust system design, iolts 2024
1 proceedings - 21st annual international ieee symposium on field-programmable custom computing machines, fccm 2013

101 Scopus®
3 OpenAIRE
1 MEDLINE

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......