Zobrazeno 1 - 10
of 173
pro vyhledávání: '"M. Rosete Aguilar"'
Publikováno v:
Applied optics. 61(26)
An accurate location of the focal position with respect to a solid target is a key task for different applications, for instance, in laser driven plasma acceleration for x-ray generation where minimum required intensities are above 10 14 W / c m 2 .
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Latin America Optics and Photonics (LAOP) Conference 2022.
We introduce a novel technique for the focal spot location based on Two-Photon Absorption effect, measured with a Si detector along the optical axis. A focus location was performed at 1550 nm with an error of ± 5 µm.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Optica Pura y Aplicada. 46:1-6
In this work, we present spectrum and spectral phase retrieval of femtosecond pulses at 74 Hz refresh rate by a spectral interferometry technique. Different spectral phase designs including high order chirp are measured and generated with a pulse sha
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Universidad Nacional Autónoma de México
UNAM
Redalyc-UNAM
Revista Mexicana de Física (México) Num.En1 Vol.50
UNAM
Redalyc-UNAM
Revista Mexicana de Física (México) Num.En1 Vol.50
"El an´alisis del cambio en el estado de polarizaci´on debido a la reflexi´on de la luz en una superficie no siempre es trivial. Este cambiodepender´a de las propiedades del material, la forma de la superficie y el ´angulo de incidencia. En este
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::63e04a0213fe61c729ecf41b5a733e17
http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57063104
http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57063104
Autor:
M. Rosete-Aguilar, J. L. Rayces
Publikováno v:
International Optical Design Conference.