Zobrazeno 1 - 10
of 276
pro vyhledávání: '"M. Renovell"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Eva Grasa, Apraiz A de, P Cortes, Fermín González-Higueras, C Franco, M Renovell, M Montes, L L Lalucat, H Sió, P Torres, M Teixidó, I Birulés, P Huertas, R Rubio, Emeterio M San, K Planell, E González, P Pleguezuelo-Garrote, C García, J Cid, A Luengo, Jordi Cid, N Mantecón, E Sánchez, M A Argany, A Jiménez-Díaz, V Gil, A Barajas, R Gonzalez-Casares, L Domínguez, Daniel Fernández, M Beltrán, E Paniego, N Camprubí, I Ruiz-Delgado, M Carbonero, A Escudero, Mª E Huerta-Ramos, Ana Barajas, L Schilling, E Pousa, Pinos I Esteban, R Vila-Badia, Marta Ferrer-Quintero, M L Barrigón, Steffen Moritz, Isabel Ruiz-Delgado, I Corripio, E Palomer, Ochoa Susana, LLacer B, J M Crosas, MªL González-Montoro, V Pérez, A Acevedo, M A Vila, R Villellas, M J Escartí, A Guasp, E Grasa, Esther Pousa, Higueras F González, María Luisa Barrigón, M Nuñez, E Murgui, E Conesa, F Villegas, S Ochoa, J Anglès, R López-Carrilero, J Sanjuán, M Delgado, E Lorente, Esther Lorente-Rovira, E Carrasco, B Sans, L Mas-Expósito, S Moritz, Raquel López-Carrilero, R Casañas, C Planellas, J L Bogas, M Rabella, T Peláez
Publikováno v:
Schizophrenia Bulletin
Background Social cognition and metacognition have emerged as cornerstones of research and treatment of schizophrenia. Both constructs are known to influence the onset of psychosis, to predict functional outcome and to be associated with symptoms. Ho
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing. 14:159-167
This paper addresses the problem of testing the RAM mode of the LUT/RAM modules of configurable SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) using a minimum number of test configurations. A model of architecture for the LUT/RAM module with N inp
Publikováno v:
IEEE Design & Test of Computers. 15:45-50
Testing FPGAs before user programming can be an expensive procedure. Applying their general test configuration and test pattern generation methodology, the authors devise an efficient test procedure for the interconnect structure and demonstrate its
Autor:
G.N. Cambon, M. Renovell
Publikováno v:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 11:1450-1458
It is demonstrated that a floating gate transistor (FGT) is influenced by its topological environment. The equivalent gate-to-source voltage of the FGT depends on the initial charges trapped in the gate oxide, the surrounding potential of metal lines
Autor:
M. Renovell
Publikováno v:
2009 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing.
With today manufacturing technology, it is not possible to eliminate all defects so that every manufactured unit is perfect. Instead, each manufactured unit must be tested so that defective parts are not shipped to a customer. In this situation, the
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.