Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"M. O'Flattery"'
Autor:
P. Zemlianoy, H.I. Rosten, T. Gautier, H. Vinke, M. O'Flattery, Clemens J. M. Lasance, C. Cahill, W. Temmerman, C. Lacaze, W. Nelemans, Y. Assouad, O. Slattery, John Parry
Publikováno v:
Thirteenth Annual IEEE. Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium.
The accurate prediction of the operating temperatures of critical electronic parts at the component-, board- and system-level is seriously hampered by the lack of reliable, standardised input data. This paper is the final report on the 3-year Europea
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::96375c1a8f3d0fc14d4825e9e17a3c2d
https://doi.org/10.1109/stherm.1997.566785
https://doi.org/10.1109/stherm.1997.566785
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.